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RC-02B分辨率測(cè)試卡X射線分辨率測(cè)試卡致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
更新時(shí)間：2024-05-10
RT CT-01 JIMA分辨率卡致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
更新時(shí)間：2024-05-21
RC-04分辨率測(cè)試卡是一種用于設(shè)置和測(cè)試微焦 X 射線系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測(cè)試模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之間的分辨率，對(duì)應(yīng)于 0.2 µm 和 20 µm 之間的焦斑尺寸。
更新時(shí)間：2024-05-10
分辨率測(cè)試卡是一款采用最新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型測(cè)試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率，確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)獲得高質(zhì)量的結(jié)果。
更新時(shí)間：2024-05-10
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