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SAG: 電極阻抗測(cè)試儀,IMP-2A-MC,IMP-2A阻抗測(cè)試儀,IMP-2A-MC電極阻抗測(cè)試儀,多通道電極阻抗測(cè)試儀,多通道阻抗測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-05-28SAG: BPG-1P脈沖發(fā)生器,脈沖發(fā)生器,刺激器脈沖發(fā)生器,便攜式脈沖發(fā)生器,BPG-1P便攜式脈沖發(fā)生器
更新時(shí)間:2024-05-28SAG: 剝離力測(cè)試儀,90度剝離力測(cè)試儀,PA-2000-90,PA-2000-90剝離力測(cè)試儀,進(jìn)口剝離力測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-05-28MT-3024測(cè)長(zhǎng)機(jī),Gagemaker MT-3000測(cè)長(zhǎng)機(jī)采用多功能臺(tái)式長(zhǎng)度測(cè)量系統(tǒng),可以測(cè)量零件、校準(zhǔn)手持式量具和預(yù)設(shè)指示式量具。Gagemaker 車間 MIC TRAC™ 量具設(shè)置和零件測(cè)量系統(tǒng)(MT-3000 系列)以 .00005“ 的標(biāo)準(zhǔn)分辨率設(shè)置或歸零大多數(shù)量具,精度范圍從 ±.0001” 到 ±.0004“(可追溯到 NIST),數(shù)字讀數(shù)已通過 CE 認(rèn)證。
更新時(shí)間:2024-05-28SAG: Partector 2,Partector2,Partector 2納米粒子探測(cè)器,Partector納米粒子探測(cè)器,納米粒子探測(cè)器,naneos納米粒子探測(cè)器
更新時(shí)間:2024-05-28SAG: 有創(chuàng)血壓測(cè)試儀,PPS 4.0有創(chuàng)血壓測(cè)試儀,IBP測(cè)試儀,PPS 4.0,PPS 4.0 IBP測(cè)試儀,壓力測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-05-28TBM-IC-MARK-V電離室輻射儀是一種快速、靈敏的離子室測(cè)量?jī)x,可檢測(cè) α、β、γ 和 X 射線輻射,對(duì)更高能量的貝塔、伽馬和 X 射線也很敏感。比以前的型號(hào)更小、更輕。該系統(tǒng)基于穩(wěn)定且基本無漂移的靜電計(jì)技術(shù)。
更新時(shí)間:2024-05-17DP500便攜式露點(diǎn)儀時(shí)尚,易于操作的彩色觸摸屏用戶界面,類似智能手機(jī)。同時(shí)測(cè)量露點(diǎn)和壓力,因此用戶可以充分相信測(cè)量數(shù)據(jù)的精確性,整合了新測(cè)量技術(shù)和用戶界面設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2024-05-13防毒面罩密合度測(cè)試儀是對(duì)任何密合式呼吸器可靠進(jìn)行密合度測(cè)試的簡(jiǎn)便方法。清除了那些需要猜測(cè)和容易出錯(cuò)的定性的密合度檢驗(yàn)方法。
更新時(shí)間:2023-07-20RC-02B分辨率測(cè)試卡X射線分辨率測(cè)試卡致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器,其中包括無損檢測(cè)儀器,JIMA分辨率測(cè)試卡,用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
更新時(shí)間:2024-05-10CONTACT
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